<th id="2hava"></th>
  • <dd id="2hava"><noscript id="2hava"></noscript></dd><rp id="2hava"></rp>
    Technical Articles

    技術文章

    當前位置:首頁  >  技術文章  >  賽默飛ICP電感耦合等離子體是光譜分析研究中應用廣泛、有效的分析技術之一

    賽默飛ICP電感耦合等離子體是光譜分析研究中應用廣泛、有效的分析技術之一

    更新時間:2019-10-28      點擊次數:1410
       賽默飛ICP電感耦合等離子體是光譜分析研究中應用廣泛、有效的分析技術之一
      賽默飛ICP電感耦合等離子體是由高頻感應電流產生的類似 火焰的激發光源。主要包括高頻發生器和感 應線圈、等離子體矩管和工作氣體三部分。 在近代物理學中,把電離度大于0.1%電離 氣體都稱為等離子體,也即電子和離子濃度 處于平衡狀態的電離氣體。等離子矩就是由 等離子體形成的"電火炬"。電感耦合等離 子體矩是利用高頻感應加熱原理,使流經石 英管的工作氣體(通常為Ar)電離而產生 火焰狀的離子體。
      等離子體發射光譜分析法是光譜分析技術中,以等離子體炬作為激發光源的一種發射光譜分析技術。其中以電感耦合等離子體(inductivelycoupledplasma,簡稱為ICP)作為激發光源的發射光譜分析方法,簡稱為ICP-OES,是光譜分析中研究為深入和應用為廣泛、有效的分析技術之一。
      賽默飛ICP電感耦合等離子體發射光譜儀ICP-OES的分析原理:
      電感耦合等離子體焰矩溫度可達6000~8000K,當將試樣由進樣器引入霧化器,并被氬載氣帶入焰矩時,則試樣中組分被原子化、電離、激發,以光的形式發射出能量。不同元素的原子在激發或電離時,發射不同波長的特征光譜,故根據特征光的波長可進行定性分析;元素的含量不同時,發射特征光的強弱也不同,據此可進行定量分析,其定量關系可用下式表示:
      I=aC^b
      式中:I—發射特征譜線的強度;
      C—被測元素的濃度;
      a—與試樣組成、形態及測定條件等有關的系數;
      b—自吸系數,b≤1  賽默飛ICP電感耦合等離子體
    021-66875565
    歡迎您的咨詢
    我們將竭盡全力為您用心服務
    7733985
    掃碼加微信
    版權所有 © 2024 上海硅儀生化科技有限公司  總訪問量:254693  備案號:滬ICP備16011689號-2

    TEL:13651923355

    掃碼加微信
    91精品云霸高清中文字幕|国产精品露脸国语对白|香蕉网久久综合影院|欧美αv日韩αⅴ亚洲一区|久久免费精品国产72精
    <th id="2hava"></th>
  • <dd id="2hava"><noscript id="2hava"></noscript></dd><rp id="2hava"></rp>